Компания Mettler-Toledo Product Inspection представила новую серию X3 рентгеновских систем контроля неупакованных сыпучих продуктов на конвейерных лентах. Две модели серии, X13 и X53, отличаются высокой чувствительностью обнаружения, снижением отходов продукции, простотой эксплуатации и предназначены, прежде всего, для производителей сельскохозяйственной продукции, кондитерских изделий и сухих продуктов.
Серия X3 специально разработана для неупакованных насыпных продуктов на конвейерных лентах. Обе модели системы способны обнаруживать посторонние предметы размером от 0,3 до 0,4 мм, в зависимости от области применения и типа посторонних предметов. Это защищает производственные мощности, предотвращает дорогостоящие отзывы продукции и способствует соблюдению международных стандартов безопасности. Типичные области применения включают сушёные, свежие или замороженные фрукты и овощи, орехи, бобовые, корнеплоды, такие как морковь и картофель, кондитерские изделия и крупы.
Опции отбраковки включают механизм с 30 продувочными соплами для точного удаления посторонних предметов из мелких продуктов и толкатель с 6 заслонками для удаления посторонних предметов из крупных продуктов. Расположение отбраковочных устройств над продуктом снижает вероятность их засорения остатками продукта, что позволяет поддерживать производительность и обеспечивать гигиеничность обработки.
Благодаря производительности до 5000 кг в час серия X3 обеспечивает максимальную эффективность, давая производителям уверенность в качестве своей продукции.
Система X13 сочетает в себе высокую производительность обнаружения и доступную цену, позволяя экономично начать проверку сыпучих материалов. Благодаря технологии детектора HiGain+ и программному обеспечению ContamPlus, система обеспечивает чёткие изображения для надёжного обнаружения посторонних предметов, таких как металл, стекло, кальцинированные кости и камни, в самых разных областях применения сыпучих материалов, независимо от их консистенции и формата.
Система X53 разработана для производителей, обрабатывающих сыпучие материалы высокой сложности, которым требуется исключительная точность. Основанная на эксплуатационных характеристиках системы X13, модель X53 оснащена технологией детектора HiGain+ DE (Dual Energy) и программным обеспечением AMD (Advanced Material Discrimination) Pro для получения дополнительных аналитических данных. Благодаря одновременной обработке двух энергетических спектров система X53 может различать материалы схожей плотности, например, кость, и сами продукты.
